粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計數(shù)器、電阻式顆粒計數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。

　　下面讓我們來詳細的了解一下粒度儀的分類吧。

　　1、激光粒度儀

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀由自主研發(fā)的會聚光傅立葉變換光路和無約束自由擬合是數(shù)據(jù)處理軟件組成，可檢測顆粒大小及分布，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個波段。

　　其測試顆粒大小及分布時采用的分散系統(tǒng)根據(jù)不同的測試要求分為濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和干濕一體分散系統(tǒng)。

　　當光線照射到顆粒上時會發(fā)生散射、衍射，其衍射、散射光強度均與粒子的大小有關(guān)。觀測其光強度，可應(yīng)用Fraunhofer 衍射理論和Mie 散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/ 散射法)，使用Mie 散射理論進行計算。光入射到球形粒子時可產(chǎn)生三類光:第一類，在粒子表面、通過粒子內(nèi)部、經(jīng)粒子內(nèi)表面的反射光;第二類，通過粒子內(nèi)部而折射出的光;第三類，在表面的衍射光。這些現(xiàn)象與粒子的大小無關(guān)，全都可以作為光散射處理。

　　一般地，光散射現(xiàn)象可以用經(jīng)Maxwell 電磁方程式嚴密解出的Mie 散射理論說明。但是，實際使用起來過于復(fù)雜，為了求得實際的光強度，可根據(jù)入射波長λ和粒子半徑r 的關(guān)系，即:r<λ時，Rayleigh 散射理論;r>λ時，F(xiàn)raunhofer 衍射理論。在使用上述理論時，應(yīng)考慮到光的波長和粒徑的關(guān)系，在不同的領(lǐng)域使用不同的理論。

　　粒徑大于波長的時候，由Fraunhofer 衍射理論求得的衍射光強度和Mie散射理論求得的散射光強度大體是一致的。因此，可以把Fraunhofer 衍射理論作為Mie 散射理論的近似處理。這時，光散射(衍射)的方向幾乎都集中在前方，其強度與粒子徑的大小有關(guān)，有很大的變化。即表示粒子徑固有的光強度譜，解出粒子的光強度分布(散射譜)就可以定出粒子徑。當波長和粒子徑很接近的時候，不能用Fraunhofer 的近似式來表示散射強度。這時有必要根據(jù)Mie 散射理論作進一步討論。在Mie散射中的散射光強度由入射光波長、粒子徑、粒子和介質(zhì)的相對折射率來確定。

　　2、顆粒圖像儀

　　顆粒圖像儀擁有靜態(tài)、動態(tài)兩種測試方法。

　　靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)，配合高清晰攝像機，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關(guān)的計算機軟件可進行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計算，并可以將測試結(jié)果輸出為報告。

　　動態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷