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測量納米粒度及Zeta電位分析儀的方法主要有哪些?

更新時(shí)間:2022-05-23  |  點(diǎn)擊率:549
  納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用于環(huán)境科學(xué)技術(shù)及資源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的物理性能測試儀器。
 
  納米粒度及電位分析儀具有*的粒度和電位分析功能,能滿足廣大納米材料、制劑開發(fā)和生產(chǎn)用戶的顆粒粒度和表面電位的測試需求。
 
  該儀器使用電泳光散射技術(shù)測定zeta電位,動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測量粒子和分子粒度,以及靜態(tài)光散射技術(shù)測定蛋白質(zhì)與聚合物的分子量。
 
  測量納米粒度及Zeta電位分析儀的方法主要有哪些呢?下面讓我們一起來了解一下吧
 
  1、電泳光散射法
 
  常見的測試zeta電位的方法是利用光學(xué)法,也就是電泳光散射法,由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合,隨著納米粒度及zeta電位儀的市場擴(kuò)大,而這種方法被廣大客戶接受。此方法的特點(diǎn)有:樣品必須要進(jìn)行稀釋后試;不同濃度對(duì)測試結(jié)果影響比較大;測試結(jié)果重復(fù)性較差,一般在±10mv以內(nèi)。
 
  2、超聲電聲法電聲法不是采用光學(xué)方法
 
  而是采用聲波信號(hào),因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢。穿透力強(qiáng),可以進(jìn)行原液測試。原液測試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測試結(jié)果會(huì)不一樣,因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。此方法優(yōu)勢有:樣品無需稀釋,原液進(jìn)行測試分析樣品的粒徑和zeta電位值,更加準(zhǔn)確表征樣品本身狀態(tài)。測試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0。3mv以內(nèi)??梢詼y試微觀參數(shù),如德拜長度,杜坎數(shù),雙電層的面電荷密度等。
 
  3、流動(dòng)電位法
 
  以上兩種方法主要是測試液體的zeta電位,有很多客戶需要測試固體表面的zeta電位,中空纖維內(nèi)部的zeta電位,膜表面的zeta電位等,此時(shí)即需要流動(dòng)法來進(jìn)行測試。即在樣品池中加入樣品,在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池,緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極,測試得到電壓值。
 
  4、微電泳法
 
  微電泳法測試zeta電位,前端兩側(cè)為四個(gè)電極,進(jìn)行正向和反向加電場,上方為ccd相機(jī),進(jìn)行對(duì)運(yùn)動(dòng)的帶電粒子做視頻跟蹤,得到信號(hào),從而得到每一個(gè)顆粒的遷移率,計(jì)算得到每個(gè)顆粒的zeta電位,從而得到zeta電位的分布。
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