固體表面Zeta電位分析儀是一款新型的、多用途分析儀，是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機(jī)，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn).
 

　　固體表面Zeta電位分析儀怎么判斷狀態(tài)是否正常?下面一起來看看吧。
 

　　1、分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理分析，具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測(cè)試范圍寬等特點(diǎn).可以觀察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果.
 

　　2、蒸餾水作分散介質(zhì)，不要加表面活性劑，配制不同濃度的金剛砂試樣溶液3份，超聲攪拌1min，然后進(jìn)行粒度測(cè)定.粉體試樣濃度較小時(shí)，所測(cè)得的粒徑較小、粒度分布范圍也較窄(由其粒度分布曲線可看出).
 

　　3、固體表面zeta電位分析儀，當(dāng)粉體試樣濃度較大時(shí)，因復(fù)散射及顆粒容易團(tuán)聚，所測(cè)得的粒徑偏大、粒度分布范圍較寬(由其粒度分布曲線可看出)，測(cè)試結(jié)果誤差較大.但以上結(jié)果并不能說明粉體試樣濃度越小越好，因?yàn)闈舛刃〉揭欢ǔ潭葧r(shí)，樣品中的顆粒已經(jīng)大大減少，太少的顆粒數(shù)會(huì)產(chǎn)生較大的取樣及測(cè)量隨機(jī)誤差，這時(shí)的樣品已無代表性.
 

　　4、測(cè)量時(shí)也應(yīng)該控制濃度的下限范圍，固體表面zeta電位分析儀，在一般測(cè)試情況下，樣品遮光度一般儀器10%-15%為宜.本規(guī)程使用于噴霧激光粒度儀，其原理為散射理論，用濕法操作;固體表面zeta電位分析儀，操作前請(qǐng)仔細(xì)閱讀操作手冊(cè)。
 

　　以上就是固體表面Zeta電位分析儀的相關(guān)知識(shí)點(diǎn)，希望以上的內(nèi)容能夠?qū)Υ蠹矣兴鶐椭?，感謝您的觀看和支持，后期會(huì)整理更多資訊給大家，敬請(qǐng)關(guān)注我們的網(wǎng)站更新。