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奧地利Anton Paar公司SurPASS 3固體表面Zeta電位分析儀采用流動電勢法和流動電流發(fā)測量Zeta電位,突破了傳統(tǒng)的電泳光散射原理對樣品的限制;采用“增強的 SurPASS 原理”,可直接研究平面固體、粉末、纖維、箔、多孔材料以及具有不同表面粗糙度的材料,而無需使用典型表面;pH 值、電導(dǎo)率和溫度的同步測量;可反映各個表面特性; 軟件可自動接管大部分功能,從而實現(xiàn)快速方便的測量。
安東帕作為高性能分析儀器的開發(fā)商和制造商,它將其物理和工程專業(yè)技術(shù)與當(dāng)代的軟件創(chuàng)意相結(jié)合,研發(fā)出直觀又輕松易用的Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀。 該分析儀通過光散射技術(shù)和巧妙簡易的軟件測量顆粒尺寸,Zeta電位、分子量和透光率。讓您對顆粒體系有一個快速而準(zhǔn)確的認(rèn)識,展示這些顆粒體系如何隨著時間、pH值、溫度和濃度變化,從而為您提供優(yōu)化工具。
奧地利安東帕PSA系列激光粒度儀見證了世界上衍射法激光粒度儀的誕生,有著超過40年的寶貴經(jīng)驗; 有3款型號,涵蓋0.04-2500um的粒徑范圍,滿足從簡單質(zhì)控到精密研發(fā)的不同需求;采用一體化設(shè)計,將主機和干法,濕法分散系統(tǒng)集成到一臺儀器中;*的光學(xué)試驗臺設(shè)計使所有光學(xué)部件長久安裝在鑄鐵底座上;干法分散采用自由落體和DJD專有技術(shù),壓力可高達(dá)到8巴,輕松測量各種粉末樣品;30位自動進(jìn)樣器。