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奧地利Anton Paar公司SurPASS 3固體表面Zeta電位分析儀采用流動電勢法和流動電流發(fā)測量Zeta電位，突破了傳統(tǒng)的電泳光散射原理對樣品的限制；采用“增強的 SurPASS 原理”，可直接研究平面固體、粉末、纖維、箔、多孔材料以及具有不同表面粗糙度的材料，而無需使用典型表面；pH 值、電導率和溫度的同步測量；可反映各個表面特性; 軟件可自動接管大部分功能，從而實現(xiàn)快速方便的測量。

安東帕作為高性能分析儀器的開發(fā)商和制造商，它將其物理和工程專業(yè)技術(shù)與當代的軟件創(chuàng)意相結(jié)合，研發(fā)出直觀又輕松易用的Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀。 該分析儀通過光散射技術(shù)和巧妙簡易的軟件測量顆粒尺寸，Zeta電位、分子量和透光率。讓您對顆粒體系有一個快速而準確的認識，展示這些顆粒體系如何隨著時間、pH值、溫度和濃度變化，從而為您提供優(yōu)化工具。

奧地利安東帕PSA系列激光粒度儀見證了世界上衍射法激光粒度儀的誕生，有著超過40年的寶貴經(jīng)驗； 有3款型號，涵蓋0.04-2500um的粒徑范圍，滿足從簡單質(zhì)控到精密研發(fā)的不同需求；采用一體化設(shè)計，將主機和干法，濕法分散系統(tǒng)集成到一臺儀器中；*的光學試驗臺設(shè)計使所有光學部件長久安裝在鑄鐵底座上；干法分散采用自由落體和DJD專有技術(shù)，壓力可高達到8巴，輕松測量各種粉末樣品；30位自動進樣器。